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三丰525系列-表面粗糙度和轮廓测量仪

简要描述:

三丰525系列-表面粗糙度和轮廓测量仪SV-C3200/SV-C4500表面粗糙度测量功能

高分辨力型Z1轴检出器作为标准件提供。Z1轴的Z高显示分辨力为0.0001μm(测量范围为8μm时)。
X轴内置高精度玻璃光栅尺,直接读取X轴移动距离,在搞精度精准定位下,完成间距参数的评价。
检出器测力有4mN和0.75mN可选。

更新时间:2018-03-02

免费咨询:0574-86861636

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三丰525系列-表面粗糙度和轮廓测量仪SV-C3200/SV-C4500

三丰525系列-表面粗糙度和轮廓测量仪SV-C3200/SV-C4500表面粗糙度测量功能

  1. 高分辨力型Z1轴检出器作为标准件提供。Z1轴的zui高显示分辨力为0.0001μm(测量范围为8μm时)。
  2. X轴内置高精度玻璃光栅尺,直接读取X轴移动距离,在搞精度精准定位下,完成间距参数的评价。
  3. 检出器测力有4mN0.75mN可选。

三丰525系列-表面粗糙度和轮廓测量仪SV-C3200/SV-C4500轮廓测量功能

  1. Z1轴(检出器)上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹,以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比,新测臂使Z1轴测量范围增大了10mm,同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件,单此接触就能完成测臂的装卸,提高了易用性。
  2. 专为SV-C-4500系统增加了以下两大特性作为轮廓测量系统的专用功能。
    • 装配双锥面测针,实现垂直方向(上/下)连续测量,所获取的数据实现简单分析以往难以测量得内螺纹有效直径。
    • 测力可在FORMTRACEPAK软件中设置。无需调整配重。
  3. 卓越的表面粗糙度/轮廓FOTMTRACEPAK分析程序,通过简单的操作就能进行高级分析并即刻输出结果。
  4. 表面粗糙度测试仪和轮廓度测量仪结合在一起,节省安装空间。

三丰525系列-表面粗糙度和轮廓测量仪SV-C3200/SV-C4500规格

货号

CV-3200S4

CV-3200H4

CV-3200W4

CV-3200S8

CV-3200H8

CV-3200W8

CV-4500S4

CV-4500H4

CV-4500W4

CV-4500S8

CV-4500H8

CV-4500W8

★量表面粗糙度时

测量范围

X轴(驱动部

100MM

200MM

Z1轴(检出器)

800μm/80μm/8μm

直线度

0.05+L/1000)μm  L:驱动长度(mm

0.5μm/200mm

分辨力

Z1轴(检出器

0.01μm800μm),0.001μm80μm),0.0001μm8μm

测力

0.75mN(机身代码末尾带“-1的型号)

4N(机身代码末尾带“-2的型号)

测针针尖形状

60°,2μmR(机身代码末尾带“-1的型号)

90°,5μmR(机身代码末尾带“-1的型号)

对应尺寸

JIS1982/JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ANSI/VDA

评价参数

Pa,Pq.Psk,Pku,Pp,Pv,Pz,Pt,Pc,PSm,Pq,Pmr(C),Pmr,P&c,Ra,Rc,RSm,Rq,Rmr(C),Rmr,R&c, Wa,Wq.Wsk,Wku,Wp,Wv,Wz,Wt,Wc,WSm,Wq,Wmr(C),Wmr,W&c Rk,Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,Rx,AR,R,AW,W,Wte,Ry,RyDIN.RzDIN,R3y,R3z,S,HSC,Lo,lr,,a,λa,λq,Vo,Htp,NR,NCRX,CPM,SR,SAR,NW,SW,SAW

轮廓分析

原始轮廓,粗糙度轮廓,滤波波纹轮廓,波纹轮廓,滚动圆波形原始轮廓,滚动圆波形轮廓,包络残余线,DF轮廓(DIN4776/ISO13565-1)、表面粗糙度MOTIF(包络波纹轮廓在评价MOTIF时显示)

分析图表

负荷曲线,振幅分布曲线,功率谱,自相关,Walsh功率谱,Walsh自相关,顶峰分布,倾斜角分布,参数分布(磨损量、重叠在轮廓分析可以用于面积等的原始分析)

曲线补充

zui小平方直线、R面补偿、椭圆补偿、抛物线补偿,双曲线补偿,二次曲线补偿,多顶式补偿(自动或任意2-7次),无补偿

滤波器

高斯滤波器,2CRPC752CRPC502CR752CR50,鲁棒样条滤波器

轮廓测量

测量范围

X轴(驱动部)

100MM

200MM

Z1轴(检出器)

60mm(水平位置±30mm)

直线度

0.8μm/100mm

2μm/200mm

精度

 

X轴(驱动部)

±(0.8+0.01L)μm   L=驱动长度(mm

±(0.8+0.02L)μm   L=驱动长度(mm

Z1轴(检出器)

SV-C3200系列:±(1.6+2H/100)μm   SV-C4500系列:±(0.8+2H/100)μm

H=水平位置上的测量高度(mm

分辨力

X轴(驱动部)

0.05μm

Z1轴(检出器)

SV-C3200系列:0.04μm   SV-C4500系列:0.02μm

Z2轴(立柱)

1μm

测力

SV-C3200系列:30mN(可调使用重量)  

SV-C4500系列:10,20,30,40,50mN (根据软件转换)

测头方向

SV-C3200系列:垂直方向(向上/向下单独测量)

SV-C4500系列:垂直方向(向上/向下根据配重调整)

☆通用时

 

Z2轴(立柱)移动量

300mm

500mm

300mm

50mm

X轴倾斜角度

±45°

驱动速度

X

0-80mm/s外加手动

Z2轴(立柱)

0-30mm/s外加手动

测量速度

0.02-5mm/s

          

注:虽然天然石材测量桌的外观各有不同,但材料的稳定性是值得信赖的。

 

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