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一.涂镀层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;所有型号均可配所有探头;可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;可使用一片或二片标准箔校准。
更新时间:2020-11-18
一.涂镀层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100特点:
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能;
所有型号均可配所有探头;
可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机;
可使用一片或二片标准箔校准。
二.德国EPK涂层测厚仪技术特征
型号 | 1100 | 2100 | 3100 | 4100 |
MINITEST 存储的数据量 | ||||
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数) | 1 | 1 | 10 | 99 |
每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算,并可设宽容度极限值) | | 1 | 10 | 99 |
可用各自的日期和时间标识特性的组数 | | 1 | 500 | 500 |
数据总量 | 1 | 10000 | 10000 | 10000 |
MINITEST统计计算功能 | ||||
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar | | √ | √ | √ |
读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ |
组统计值六种x,s,n,max,min,kvar | | | √ | √ |
组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk | | | √ | √ |
存储显示每一个应用行下的所有组内数据 | | | | √ |
分组打印以上显示和存储的数据和统计值 | | | √ | √ |
显示并打印测量值、打印的日期和时间 | | √ | √ | √ |
其他功能 | ||||
设置极限值 | | | √ | √ |
连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别zui大zui小值 | | | √ | √ |
连续测量模式中测量稳定后显示读数 | | | √ | √ |
连续测量模式中显示zui小值 | | | √ | √ |
三.德国EPK涂层测厚仪可选探头参数
所有探头都可配合任一主机使用。在选择zui适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层
N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层
FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能
探头 | 量程 | 低端 | 误差 | zui小曲率半径 | zui小测量 | zui小基 | 探头尺寸 | |
磁 | F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/ | | | φ15x |
F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/ | | | φ15x | |
F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/ | | | φ8x8x | |
F2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/ | | | φ8x8x | |
F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/ | | | φ15x | |
F10 | 0 | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/ | | | φ25x | |
F20 | 0 | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/ | | | φ40x | |
F50 | 0 | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/ | | | φ45x | |
两 | FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/ | | F | φ15x |
FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | | F | φ21x | |
FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/ | | F | φ15x | |
电 | N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/ | | 50μm | φ16x |
N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | | | 100μm | φ15x | |
N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/ | | 50μm | φ15x | |
N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/ | | 50μm | φ13x13x | |
N2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/ | | 50μm | φ15x | |
N2/90 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面/ | | 50μm | φ13x13x | |
N10 | 0 | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/ | | 50μm | φ60x | |
N20 | 0 | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/ | | 50μm | φ65x | |
N100 | 0 | 100μm | ±(1%± | | | 50μm | φ126x | |
CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | | 无限制 | φ17x |
F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。
N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。
CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。