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三丰表面粗糙度轮廓测量仪SV-C3200S4的表面粗糙度/ 轮廓测量仪FORMTRACER/SV-C3200S4,货号525-481DC-1,X1 轴测量范围100 mm,花岗岩基座尺寸600×450 mm,垂直移动300 mm。
更新时间:2018-03-02
三丰表面粗糙度轮廓测量仪SV-C3200S4
三丰表面粗糙度轮廓测量仪SV-C3200S4的表面粗糙度/ 轮廓测量仪FORMTRACER/SV-C3200S4,货号525-481DC-1,X1 轴测量范围100 mm,花岗岩基座尺寸600×450 mm,垂直移动300 mm。
检出器测力:0.75 mN
货号 | 型号 | 主机规格 | ||
X1 轴测量范围 | 垂直移动 | 花岗岩基座尺寸 | ||
525-481DC-1 | SV-C3200S4 | 100 mm | 300 mm | 600×450 mm |
分析软件 |
| FORMTRACEPAK V5.4/E SVC/CS |
2. 主机规格
2-1. 测量表面粗糙度时
测量范围 | X1 轴 |
| 100 mm |
| 检出器 | 800 μm、80 μm、8 μm | |
类型 | X1 轴 |
| 反射型线性编码器 |
| 检出器 |
| 差动电感式 |
分辨力 | X1 轴 |
| 0.05 μm |
| 检出器 |
| 0.01μm(800 μm) 0.001 μm(80 μm) 0.0001 μm(8 μm) |
直线度
|
| (0.05+L/1000)μm L为驱动长度(mm) (以X1轴为水平方向上) | |
测针上/下运作 |
| 弧形移动 | |
测针方向 |
|
| 向下 |
测力 |
|
| 0.75 mN |
测针针尖形状 |
| 60°、R2 μm |
2-2. 测量轮廓形状时
测量范围 | X1 轴 |
| 100 mm |
| Z1轴(检出器) | 60 mm | |
类型 | X1 轴 |
| 反射型线性编码器 |
| Z1轴 |
| 圆弧光栅尺 |
分辨力 | X1 轴 |
| 0.05 μm |
| Z1轴 |
| 0.04 μm |
直线度 |
| 0.8μm/100 mm (以X1轴为水平方向上) | |
指示精度 | X1 轴 |
| ±(0.8+0.01L)μm L为驱动长度(mm) |
(20℃) | Z1轴 |
| ±(1.6+|2H|/100)μm H:基于水平位置的测量高度(mm) |
测针上/下运作 | 弧形移动 | ||
测量方向 |
|
| 向前/向后 |
测针方向 |
|
| 向上/ 向下 |
测力 |
|
| 30 mN |
跟踪角度 | 向上 |
| 77°(依表面粗糙度而定) |
| 向下 |
| 83°(依表面粗糙度而定) *使用配置的标准测头 |
测针针尖 | *半径 |
| 25 μm |
| 材料 |
| 硬质合金 |
2-3. 主机规格
垂直移动 | Z2 轴(立柱) | 300 mm | |
长度基准 | Z2 轴 |
| ABSOLUTE 线性编码器 |
分辨力 | Z2 轴 |
| 1 μm |
X1 轴倾角范围 |
| ±45° | |
驱动速度 | X1 轴 |
| 0~80 mm/s外加手动 |
| Z2 轴 |
| 0~30 mm/s外加手动 |
测量速度 |
|
| 0.02~5 mm/s |
基座尺寸 | 600×450 mm | ||
基座材料 |
|
| 花岗岩 |
尺寸 | 主机 | 996×575×966 mm | |
| 控制器 | 221×344×490 mm | |
| 遥控箱 | 248×102×62.2 mm | |
重量 | 主机 | 140 kg | |
| 控制器 | 14 kg | |
| 遥控箱 | 0.9 kg | |
使用温度范围 |
| 15~25 ℃ | |
使用湿度范围 |
| 20~80 %RT 但是不能结露 | |
保存温度范围 |
| -10~50 ℃ | |
保存湿度范围 |
| 5~90 %RT 但是不能结露 | |
电源 |
|
| 100~120V、200~240 V±10%、AC50/60 Hz |
消耗功率 |
|
| 400W |