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三丰表面粗糙度轮廓测量仪SV-C3200S4

简要描述:

三丰表面粗糙度轮廓测量仪SV-C3200S4的表面粗糙度/ 轮廓测量仪FORMTRACER/SV-C3200S4,货号525-481DC-1,X1 轴测量范围100 mm,花岗岩基座尺寸600×450 mm,垂直移动300 mm。

更新时间:2018-03-02

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三丰表面粗糙度轮廓测量仪SV-C3200S4

   三丰表面粗糙度轮廓测量仪SV-C3200S4的表面粗糙度/ 轮廓测量仪FORMTRACER/SV-C3200S4,货号525-481DC-1,X1 轴测量范围100 mm,花岗岩基座尺寸600×450 mm,垂直移动300 mm。

检出器测力:0.75 mN

货号

主机规格

X1 轴测量范围

垂直移动

花岗岩基座尺寸

525-481DC-1

SV-C3200S4

100 mm

300 mm

600×450 mm

 

分析软件

 

FORMTRACEPAK V5.4/E SVC/CS

 

 

 

2.  主机规格

 

2-1.  测量表面粗糙度

测量范围

X1

 

100 mm

 

检出器

800 μm80 μm8 μm

类型

X1

 

反射型线性编码器

 

检出器

 

差动电感式

分辨

X1

 

0.05 μm

 

检出器

 

0.01μm800 μm

0.001 μm80 μm

0.0001 μm8 μm

直线度

 

 

(0.05+L/1000)μm  L为驱动长度(mm)

(以X1轴为水平方向上)

测针上/下运作

 

弧形移动

测针方向

 

 

向下

测力

 

 

0.75 mN

测针针尖形状

 

60°、R2 μm

 

2-2.  测量轮廓形状

测量范围

X1

 

100 mm

 

Z1检出器

60 mm

类型

X1

 

反射型线性编码器

 

Z1

 

圆弧光栅尺

分辨

X1

 

0.05 μm

 

Z1

 

0.04 μm

直线度

 

0.8μm/100 mm (以X1轴为水平方向上)

指示精度

X1

 

±(0.8+0.01L)μm  L为驱动长度(mm)

20℃)

Z1

 

±(1.6+|2H/100)μm

H基于水平位置的测量高度(mm)

测针上/下运作

弧形移动

测量方向

 

 

/向后

测针方向

 

 

向上/ 向下

测力

 

 

30 mN

跟踪角度

向上

 

77°(依表面粗糙度而定

 

向下

 

83°(依表面粗糙度而定

*使用配置的标准测头

测针针尖

*半径

 

25 μm

 

材料

 

硬质合金

 

 

 

2-3.  主机

垂直移动

Z2 (立柱)

300 mm

长度基准

Z2

 

ABSOLUTE 线性编码器

分辨

Z2

 

1 μm

X1 轴倾角范围

 

±45°

驱动速度

X1

 

080 mm/s外加手动

 

Z2

 

030 mm/s外加手动

测量速度

 

 

0.025 mm/s

基座尺寸

600×450 mm

基座材料

 

 

花岗岩

尺寸

主机

996×575×966 mm

 

控制器

221×344×490 mm

 

遥控箱

248×102×62.2 mm

重量

主机

140 kg

 

控制器

14 kg

 

遥控箱

0.9 kg

使用温度范围

 

1525

使用湿度范围

 

20~80 %RT  但是不能结露

保存温度范围

 

-1050

保存湿度范围

 

5~90 %RT  但是不能结露

 

 

100120V200240 V±10%AC50/60 Hz

消耗功率

 

 

400W

 

 

 

 

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